报告题目：X 光成像在芯片先进纳米制程中的应用

报告时间：2021年11月19日（周五）　下午3:30-5:30

报告地点：建筑工程学院8#202

报告人：徐欣彤

报告人单位：美国诺信高精密器材公司

报告人简介：

徐欣彤，男，博士，博士毕业于英国卡迪夫大学。现就职于美国诺信公司担任产品技术主管，负责自动化高精密仪器研发与客户技术支持。曾与多家国际半导体公司协作提供晶圆制造与测量的解决方案，并曾担任希捷硬盘高级产品整合工程师

报告摘要：纳米制程是芯片及各种先进半导体设备制造的基础，也是我国重点攻坚的“卡脖子”科技难题。纳米制程的核心技术之一就是高精密测量仪器的发展与应用。本次报告从X 光测量仪器为切入点阐述现阶段先进半导体产业所面对的挑战与机遇。

邀请单位：黄淮学院建筑工程学院